| 1. Identificação | ||||
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) | |||
| Site | mtc-m21b.sid.inpe.br | |||
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S | |||
| Identificador | 8JMKD3MGP3W34P/3NNKRRE | |||
| Repositório | sid.inpe.br/mtc-m21b/2017/04.19.15.11 (acesso restrito) | |||
| Última Atualização | 2017:05.15.21.10.29 (UTC) administrator | |||
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/mtc-m21b/2017/04.19.15.11.50 | |||
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.04.02.27.24 (UTC) administrator | |||
| DOI | 10.1107/S1600576717000760 | |||
| ISSN | 0021-8898 | |||
| Chave de Citação | MorelhãoFornRappAbra:2017:NaChBi | |||
| Título | Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis  | |||
| Ano | 2017 | |||
| Data de Acesso | 17 maio 2024 | |||
| Tipo de Trabalho | journal article | |||
| Tipo Secundário | PRE PI | |||
| Número de Arquivos | 1 | |||
| Tamanho | 2134 KiB | |||
| 2. Contextualização | ||||
| Autor | 1 Morelhão, S. L. 2 Fornari, Celso Israel 3 Rappl, Paulo Henrique de Oliveira 4 Abramof, Eduardo | |||
| Identificador de Curriculo | 1 2 3 8JMKD3MGP5W/3C9JJ37 4 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH | |||
| Grupo | 1 2 CMS-ETES-SESPG-INPE-MCTIC-GOV-BR 3 LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR 4 LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR | |||
| Afiliação | 1 Universidade de São Paulo (USP) 2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) | |||
| Endereço de e-Mail do Autor | 1 2 celso.fornari@inpe.br 3 paulo.rappl@inpe.br 4 eduardo.abramof@inpe.br | |||
| Revista | Journal of Applied Crystallography | |||
| Volume | 50 | |||
| Páginas | 399-410 | |||
| Nota Secundária | A1_MATERIAIS A1_GEOCIÊNCIAS A1_ENGENHARIAS_III A1_BIOTECNOLOGIA A2_QUÍMICA A2_MATEMÁTICA_/_PROBABILIDADE_E_ESTATÍSTICA A2_ENGENHARIAS_II A2_ASTRONOMIA_/_FÍSICA | |||
| Histórico (UTC) | 2017-04-19 15:11:50 :: simone -> administrator :: 2017-04-19 15:11:51 :: administrator -> simone :: 2017 2017-04-19 15:12:02 :: simone -> administrator :: 2017 2017-04-21 11:17:33 :: administrator -> simone :: 2017 2017-06-02 14:09:04 :: simone -> administrator :: 2017 2018-06-04 02:27:24 :: administrator -> simone :: 2017 | |||
| 3. Conteúdo e estrutura | ||||
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz | |||
| Estágio do Conteúdo | concluido | |||
| Transferível | 1 | |||
| Tipo do Conteúdo | External Contribution | |||
| Tipo de Versão | publisher | |||
| Palavras-Chave | bismuth telluride model structure simulation nanostructured domains three-dimensional reciprocal-space maps X ray diffraction | |||
| Resumo | The surface properties of topological insulators are strongly correlated with their structural properties, requiring high-resolution techniques capable of probing both surface and bulk structures at once. In this work, the high flux of a synchrotron source, a set of recursive equations for fast X-ray dynamical diffraction simulation and a genetic algorithm for data fitting are combined to reveal the detailed structure of bismuth telluride epitaxial films with thicknesses ranging from 8 to 168 nm. This includes stacking sequences, thickness and composition of layers in model structures, interface coherence, surface termination, and morphology. The results are in agreement with the surface morphology determined by atomic force microscopy. Moreover, by using X-ray data from a zero-noise area detector to construct three-dimensional reciprocal-space maps, insights into the nanostructure of the domains and stacking faults in Bi2Te3 films are given. | |||
| Área | FISMAT | |||
| Arranjo 1 | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Nanoscale characterization of... | |||
| Arranjo 2 | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção pgr ATUAIS > CMS > Nanoscale characterization of... | |||
| Conteúdo da Pasta doc | acessar | |||
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos | |||
| Conteúdo da Pasta agreement |
| |||
| 4. Condições de acesso e uso | ||||
| Idioma | en | |||
| Grupo de Usuários | simone | |||
| Grupo de Leitores | administrator simone | |||
| Visibilidade | shown | |||
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft | |||
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 | |||
| Permissão de Atualização | não transferida | |||
| 5. Fontes relacionadas | ||||
| Vinculação | 8JMKD3MGP3W34P/3NAEMRH | |||
| Repositório Espelho | sid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.22 | |||
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 8JMKD3MGPCW/3F358GL | |||
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 3 sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.57.50 2 sid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.44.57 2 | |||
| Divulgação | WEBSCI | |||
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.20 | |||
| 6. Notas | ||||
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark month nextedition notes number orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarykey session shorttitle sponsor subject targetfile tertiarytype url | |||
| 7. Controle da descrição | ||||
| e-Mail (login) | simone | |||
| atualizar | ||||